BIST（Built-in Self-Test，内建自测试技术）是一种集成电路可测性设计（DFT）技术，通过在芯片内部植入专用测试电路，实现器件自我检测功能，主要应用于半导体制造测试领域以降低对自动测试设备（ATE）的依赖。该技术通过在芯片设计阶段集成测试向量生成器（TPG）、响应分析器（ORA）以及控制器模块，支持对逻辑电路和存储器的自主测试。其核心分类包括：Logic BIST（LBIST）采...
BIST（Built-in Self-Test，内建自测试技术）是一种集成电路可测性设计（DFT）技术，通过在芯片内部植入专用测试电路，实现器件自我检测功能，主要应用于半导体制造测试领域以降低对自动测试设备（ATE）的依赖。该技术通过在芯片设计阶段集成测试向量生成器（TPG）、响应分析器（ORA）以及控制器模块，支持对逻辑电路和存储器的自主测试。其核心分类包括：Logic BIST（LBIST）采...
